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IC集成电路老化测试座

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所 在 地： 中国 
发布时间：2021-03-29
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产品介绍

IC集成电路老化测试座

该产品用于航空航天、军工、科研单位以及集成电路生产企业，可配进口老化台、老化板做器件及高、低温测试、老化筛选作连接之用。

产品型号及规格；

4M-68J

主要技术指标；
间距；1.27mm      环境温度；-55℃—+155℃    接触电阻；≤0.01欧     工作电压；DC500V
单脚插入力；≤0.2Kg     弹片金层厚度；1um镍2um金  封装形式：CPGA
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