产品名称:【供应】IC集成电路老化测试座
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发布时间:2021-03-29
详细说明:
IC集成电路老化测试座
该产品用于航空航天、军工、科研单位以及集成电路生产企业,可配进口老化台、老化板做器件及高、低温测试、老化筛选作连接之用。
产品型号及规格;
4M-68J
主要技术指标;
间距;1.27mm 环境温度;-55℃—+155℃ 接触电阻;≤0.01欧 工作电压;DC500V
单脚插入力;≤0.2Kg 弹片金层厚度;1um镍2um金 封装形式:CPGA