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技术和应用论坛
PXI TAC智能测试时代，智领未来
PXI技术和应用论坛（PXI TAC）自2004年创办以来经过14年积累，有超过2万工程师积极参与，见证了PXI技术诞生20年以来的每一个重大突破，已经是中国地区最大、最具影响力的PXI技术专业论坛。 >> 更多精彩内容点击
射频集成电路(RFIC)测试
功率放大器(PA) – 作为分立元件或集成前端模块(FEM)的一部分 – 是现代无线电中最完整的RF集成电路(RFIC)之一。 本系列教程由两部分组成，通过交互式白皮书以及多个演示视频，介绍了RF PA和FEM测试的基础知识。
>> 系列1：功率放大器和前端模块测量的基础知识
>> 系列2：在数字预失真和动态电源条件下测试PA
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测试系统构建完整指南
测试策略对于降低成本和最大限度提高产品开发和制造组织的效率至关重要。阅读测试执行维护、软硬件抽象层、热分析和开关等方面的最佳实践，确保您掌握构建更智能测试系统所需的基础知识，以便满足当今和未来的各种需求。通过本完整指南，了解从头到尾构建完整测试系统的推荐过程。
>> 立即下载完整指南
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2018自动化测试趋势展望
《自动化测试趋势展望2018之智能测试趋势指南》
从5G技术的首次推出到自动驾驶汽车的加速发展,企业需要更智能的测试策略来保持竞争优势。本趋势包含确保测试系统的安全、高效测试团队的秘密、自动驾驶汽车的传感器融合测试、对测试实验室标准化、先于标准进行测试、封装技术创新对测试的影响。
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NI SMU - 电性能测试的最佳选择
源测量单元(SMU)可同时控制与量测高精度电压、电流，专为消费性电子产品、IC设计与验证、生医、学术研究等实验室提供电性能测试。NI为自动化测试的领导者，透过PXI平台、源测量单元与其他模块化仪器，为用户提供定制化、弹性扩充与高精度测试解决方案。
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