2017自动化测试趋势展望
《自动化测试趋势展望》全面介绍了影响测试和测量行业的关键技术和方法。 测试工程师和管理人员所面临的重大挑战之一是保持处于测试发展趋势的前沿。NI联合创始人Dr. James Truchard回顾了过去40年测试测量行业的发展, 并指出了至今仍影响当今测试组织的市场和技术趋势,同时对未来进行了展望。
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NI SMU - 电性能测试的最佳选择
源测量单元(SMU)可同时控制与量测高精度电压、电流,专为消费性电子产品、IC设计与验证、生医、学术研究等实验室提供电性能测试。NI为自动化测试的领导者,透过PXI平台、源测量单元与其他模块化仪器,为用户提供定制化、弹性扩充与高精度测试解决方案。
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业界领先性能的模块化数字万用表
在灵活高效的PXI平台上,模块化的数字万用表将会具有更快的测试速度,更强的可自定义性,更优化的成本,更小的尺寸。是实验室特性研究中精确测量设备电压、电流、电容、电感和温度必不可少的仪器。资源包包括NI数字万用表优势、选用技巧、案例分析等。
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