电子工程_电子工程师_电子产品世界_EEPW
返回首页 　| 　厂商登录　 |　 注册

021-50509800

china.info@ni.com

美国国家仪器
最新技术资料
NI汽车行业应用与选型指南
NI半导体测试系统
2018半导体测试解决方案
5G新空口--物理层介绍
自动化测试趋势展望2018之智能测试趋势指南
RFIC技术白皮书系列：在数字预失真和动态电源条件下测试PA
软件下载
LabVIEW 2017评估版软件
评估LabVIEW RIO架构用于嵌入式系统设计
使用NI LabVIEW 2017评估自动化测试附加工具
评估NI LabVIEW 2017用于图像和高级信号处理算法
评估NI LabVIEW 2016用于软件验证和代码分析
评估NI LabVIEW 2017用于报告生成和数据存储
视频教程
智能机器网络教程系列之使用OPC UA，实现智能机器之间的语义互操作性
智能机器网络教程系列之不只是检测：让控制循环具备视觉能力
智能机器网络教程系列之使用IIoT技术管理资产
智能机器网络教程系列之智能机器控制(sMC) 的核心技术
全新高性能CompactRIO控制器简化工业控制系统复杂度
分布式系统网络教程之添加智能至嵌入式系统
NI新闻
NIDays彰显NI生态实力，5G、ADAS、IIoT等全球热点趋势尽在掌握
2016 LabVIEW国际挑战赛赛制流程
首届LabVIEW国际挑战赛火热启动，冠军直通美国德州NIWeek
美国国家仪器携手同济大学联合揭幕
携手NI, 走近日益互联化的工业世界与工业大数据
准备跳槽的小伙伴们看过来，年底高薪诱惑---Solution Engineer (Contractor)
技术资料
测试系统构建完整指南：开关和多路复用
  • 文档大小：2232168K
  • 文档类型：技术文档
  • 上传日期：2017-03-24
  • 资料介绍：
    测试系统构建完整指南系列之一，开关是扩展仪器通道数的一种经济实惠的选择，但并不一定是最好的选择。了解四种不同的开关架构，确定满足您测试系统需求的最佳策略。
Copyright ©2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD.
电子产品世界版权所有