详细说明：

945北桥SLA9C治具 ，适用于集成电路的测试和功能验证。芯片型号：CHIPSET，pitch=0.8,PIN数：465，芯片大小:21×21.

采用手动翻盖式结构，操作方便；
※ 上盖的IC压板采用旋压式结构，下压平稳，保证IC的压力均匀，不移位；
※ 探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触可靠,而不会损坏锡球；
※ 高精度的定位槽或导向孔，保证IC定位精确，测试效率高；
※ 采用浮板结构，对于BGA IC 有球无球都能测,
※ 探针材料：铍铜(标准)，
※ 探针可更换，维修方便，成本低。
※ 绝缘材料：电木、FR4、
※ 最小可做到跳距pitch=0.4mm(引脚中心到中心的距离）；
※ 交货快：最快三天内交货。
NH82801CBM笔记本南桥治具，适用于集成电路的测试和功能验证。芯片型号：NH82801CBM，
采用手动翻盖式结构，操作方便；
※ 上盖的IC压板采用旋压式结构，下压平稳，保证IC的压力均匀，不移位；
※ 探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触可靠,而不会损坏锡球；
※ 高精度的定位槽或导向孔，保证IC定位精确，测试效率高；
※ 采用浮板结构，对于BGA IC 有球无球都能测,
※ 探针材料：铍铜(标准)，
※ 探针可更换，维修方便，成本低。
※ 绝缘材料：电木、FR4、
※ 最小可做到跳距pitch=0.4mm(引脚中心到中心的距离）
内存条测试治具

采用手动翻盖式结构，操作方便；
　　 ◆上盖的IC压板采用摆动式结构，下压平稳，保证IC的压力均匀，不移位；
　　 ◆探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触可靠，而不会损坏锡球；
　　 ◆高精度的定位槽，保证IC定位精确，测试效率高；
　　 ◆测试准确性高，大大减少误判率；
　　 ◆采用进口双头针，探针可更换，维修方便，成本低；
　　 ◆产品通用程度高，只要换IC限位框，即可测试所有内存IC（宽度≤12MM）；
　　 ◆有球无球均可测试（只需更换上盖的IC压板）；
　　 ◆测试寿命长，有效测试10万次以上；
　　 ◆内置4个EEPROM,通过一个4位开关切换，可存储4组SPD，方便测试，节约时间；
　　 ◆绝缘材料：FR4、Torlon、PEI、PEEK； 　
　　 ◆测试频率可达9.3GHz；
　 　◆可以免费提供相关的技术支持。