1)产品体积小,重量轻,USB接口,适合携带
电路板故障检测仪产品介绍及特点:
1)数字测试通道:64路(可扩充到256通道).
电路板故障检测仪技术参数:
数字集成电路测试参数规格 | |
测试通道数: | 64通道(可扩展到256通道) |
总线隔离信号信道数: | 4通道or 8通道 |
实时比对功能: | 需有二个64通道, 或128通道 |
输出驱动电压: | TTL/CMOS 标准 |
输出驱动电流: | 电流依不同的逻辑电平阈值有下列区分 |
一般H-L 80mA @ 0.6V | |
一般 L-H 200mA @ 2V | |
Max. 400mA | |
驱动电压转换比: | >100V/µs |
电压范围: | +/-10V |
输入阻抗: | 10k |
逻辑形态: | 三态或开集极开路 (内定或由程序设定) |
驱动逻辑形态: | Low, high, 三态 (tri-state) |
过电压保护范围: | <0.5V, >5.5V |
最长测试时间: | 根据被测元器件而定 |
测试方式: | 在线及离线测试 (需外接离线测试盒) |
电源供给规格参数 | |
自动供给电源输出: | 1 x 5V @ 5A 固定式 |
( 2 x 5V @ 5A 固定式 for 128信道) | |
过电压保护: | 7V |
过电流保护: | 7A |
测试模式 | |
单次(Single): | 单次测试 |
循环(Loop): | 反复测试, 或条件式循环测试(PASS或FAIL) |
自动扫描测试: | 可找到较为严格的逻辑电平阈值 |
逻辑电平阈值设定规格参数 | |
最小调整解析: | 100mV |
低信号位准Low levels: | TTL 0.1V to 1.1V |
CMOS 0.1V to 1.5V | |
转态位准Switching levels: | TTL 1.0V to 2.3V |
CMOS 1.0V to 3.0V | |
高信号位准High levels: | TTL 1.9V to 4.9V |
CMOS 1.9V to 4.9V | |
扫描低逻辑范围Swept low levels: | TTL 0.1V to 1.1V |
CMOS 0.1V to 1.5V | |
扫描逻辑转态范围Swept switching levels: | TTL 1.2V |
CMOS 2.5V | |
扫描高逻辑范围Swept high levels: | TTL 1.9V to 4.9V |
CMOS 1.9V to 4.9V |
测试功能及参数 | |
集成电路功能测试 | 根据测试库的功能进行测试,根据元件的原理和真值表进行测试 |
元器件连接特性测试 | |
短路状态侦测 Short circuit detection | |
悬浮(浮接)状态侦测 Floating input detection | |
开路状态侦测 Open circuit detection | |
连接状态侦测 Linked pin detection | |
电压量测Voltage: | 最小解析 10mV 范围 +/-10V |
具逻辑状态侦测 Logic state detection | |
VI曲线测试: | 测试通道数64 – 256(扩展) |
|
电压设定范围 -10V to +10V (可自行设定),可以设置非对称电压扫描 |
|
最大测试电流 1mA |
曲线拐点系数: | 管脚的v-i曲线图中的拐点图形,随温度产生变化的系数,对于判定温漂的故障元件非常有帮助 |
配件 |
|
标准配件 |
离线测试测试盒 |
1 x 64 way test cable (64通道测试线) |
|
1 x 64 way split test cable (2X32通道测试线) |
|
1 x V-I probe assembly (V-I曲线测试探棒) |
|
1 x BDO cable (隔离通道信号测试线) |
|
1 x Short locator cable (短路电阻测试探棒) |
|
1 x Ground clip (接地信号夹) |
|
1 x PSU lead set (电源输出线) |
通讯及机箱 | |
内置通讯接口 | PCI interface (通讯接口) |
外置通讯接口及机箱 | MultiLink case (标配) 为 USB.通讯端口 |
External case (选购) 可升级到 5个安装槽的SYSTEM 8 外接箱 (USB.通讯端口). |
组件数据库 | |
可测试元器件种类: | TTL 54/74 logic, CMOS, Memory, Interface, LSI, Microprocessor, PAL/EPLD, Linear, Package, Special a及使用者定义 |
可测试元器件封装类型: | DIL, SOIC, PLCC, QFP,用户可以自己配置测试夹和转接座 |
【本公司其他最新产品】 | |||||
名称 | 时间 | 厂商 | 型号 | 起订量 | 单价 |
数字测力计FGP-0.2 | 04-09 | 北京金三航科技发展有限公司 | 数字测力计FGP-0.2 | 1台 | ¥6200 |
英国ABI-6400电路板故障检测 | 04-09 | 北京金三航科技发展有限公司 | 6400 | 0台 | ¥0 |
英国ABI-BM8400电路板故障 | 04-09 | 北京金三航科技发展有限公司 | BM8400 | 0台 | ¥0 |
英国ABI-ChipMaster手 | 04-09 | 北京金三航科技发展有限公司 | ChipMaster | 1台 | ¥面议 |
AT256 A4集成电路测试仪 | 04-09 | 北京金三航科技发展有限公司 | AT256 A4 | 1台 | ¥0 |