集成电路测试仪产品简介:
1. 为测试数字 IC而设计
2. 可测试元件:TTL54/74,CMOS 40/45,DRAM 41/44
3. 轻小可携带、操作容易,可使用电池、非常省电
4. 设有empty-load测试及自动电源开关装置
5. 平均测试时间:0.8秒
集成电路测试仪规格
【本公司其他最新产品】 | |||||
名称 | 时间 | 厂商 | 型号 | 起订量 | 单价 |
数字测力计FGP-0.2 | 04-09 | 北京金三航科技发展有限公司 | 数字测力计FGP-0.2 | 1台 | ¥6200 |
英国ABI-6400电路板故障检测 | 04-09 | 北京金三航科技发展有限公司 | 6400 | 0台 | ¥0 |
英国ABI-BM8400电路板故障 | 04-09 | 北京金三航科技发展有限公司 | BM8400 | 0台 | ¥0 |
英国ABI-ChipMaster手 | 04-09 | 北京金三航科技发展有限公司 | ChipMaster | 1台 | ¥面议 |
AT256 A4集成电路测试仪 | 04-09 | 北京金三航科技发展有限公司 | AT256 A4 | 1台 | ¥0 |