集成电路测试仪产品简介:
1. 为测试数字 IC而设计
2. 可测试元件:TTL54/74,CMOS 40/45,DRAM 41/44
3. 轻小可携带、操作容易,可使用电池、非常省电
4. 设有empty-load测试及自动电源开关装置
5. 平均测试时间:0.8秒
集成电路测试仪规格
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名称 | 时间 | 厂商 | 型号 | 起订量 | 单价 |
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