集成电路测试仪产品简介:
GT2200A测试仪集功能测试、参数测试于一体，专门用于各种单运放、多运放和电压比较器的测量 。
功能测试、测量数据、管脚选择、数据比较等均由CPU完成，不需过多的人工干预。只需简单且较少的按键操作就能让您得到您所关心的芯片参数，或优劣程度。免去使用各种接线盒来适配各种不同的运放/比较器的烦恼。测试操作简单，功能齐全，可按需要选取测量参数，测量结果不受人为因素影响。
集成电路测试仪产品特点:
1．根据IC型号自动切换测试，无需人工转接线更换测试盒。
2．具有自校准功能，测试参数基准稳定。
3．测试参数值读取快洁、直观。
4．测试操作简单。
5．它可以对线性IC的11项交直流参数进行测试及功能测试。
6．提供自适应测试方式：以样片为基准，对同型号IC 进行筛选测试进行快速筛选。
集成电路测试仪GT2200A基本使用方法:
先取一个“有代表”性(满足使用要求)的芯片进行“学习”，即将该芯片的各种应测数据保存起来。再对其他芯片进行有选择性的“比较”测试，即对您所关心的数据进行自动测量，并与“学习”数据进行比较，显示出优劣结果。操作十分简单，容易掌握；尤其是大批量筛选更为简单，优于样板的就通过，不必一一读取测量结果，并逐一查看其是否符合要求。若想看测量结果，也可用按键逐一翻看。
应该说它即可满足生产筛选的需要，也可满足科研开发使用。
集成电路测试仪GT2200A 测试参数：
| 测试参数 |
符号 |
单位 |
误差 |
| 失调电压 |
Vio |
mV |
<5％ |
| 失调电流 |
Iio |
nA |
<5％ |
| 偏置电流 |
Iib |
nA |
<5％ |
| 静态功耗 |
Pd |
mW |
<5％ |
| 开环增益 |
Avd |
db |
<5％ |
| 共模抑制比 |
Kcmr |
db |
<5％ |
| 输入电阻 |
Rid |
KΩ |
<10％ |
| 输出电阻 |
Ros |
Ω |
<10％ |
| 增益带宽积 |
Gbw |
KH |
<5％ |
| 电源电压抑制比 |
Ksvr |
db |
<5％ |
| 输出电压峰-峰值 |
Vopp |
V |
<5％ |
集成电路测试仪测试内容说明：
· 静态工耗 是在测试电压为± 8V下测得（个别特殊比较器在+12V/-6V下测得）。
·对于自适应测试，比较误差小于5%
· 失调电压 测量范围：100uV─100mV，
Vos 超过 100mV 时， 认为功能失效；
|Vos| 在2mV─100mV之间，相对误差<3%；
|Vos| 在0.1─2mV之间，相对误差<6%失调电流。
· 偏置电流 测量范围： Ios，Ib >10nA时 相对误差<3%；
Ios，Ib<10nA相对误差<8%；
Ios；Ib<0.5nA，相对误差较大。
· 静态功耗 测量范围：0.3─180mW、Pd>10mW，相对误差 <3%
· 输出电阻 测量范围：25─2.5k，分辨率为5Ω
· 输入电阻 测量范围：20KΩ─15MΩ，分辨率KΩ
·输入电阻高于15M的芯片不测此项参数，若“错敲”键入型号，如测LF347而键入“342”（LM324），
所测的输入电阻是不真实的。
· 压摆率 为扩充测试项。
额定工作条件及规格：
整 机 功 耗： 35W
电 源： 220V/AC 50HZ
使用环境温度：5─35
相 对 湿 度： 45%RH
重 量： 5.5kg
外界电磁干扰： 避免 |
