然 而，消费电子产品和工业电子产品并不是唯一需要保护的设备。自动测试设备 （automatic test equipment, ATE）也会受 到 ESD 或具有电气故障的被测器件所损坏。虽然，电子制造商采取了许多预防措施来最大限度地减少在制造过程中产品或工作人员产生电荷，但是只要发生一 个 ESD 事件便足以损坏一台昂贵的测试设备。

这是一个非常重要的问题，一家知 名 ATE 制造商最近夸赞其中一个新产品具有抗 ESD 损坏能力。新闻稿声称“[新测试仪器]现在具有ESD保护电路，有助于抵抗传统的 PCB 测 量解决方案可能遭遇的严重 ESD 损坏。[新测试仪器]采用非常稳固的架构，可以保护仪器避免 ESD 损坏，最大限度地减少停机时间和返工。”数据表 表明新测试仪器输入和输出具有高达 3kV（IEC801-2 Human Body Model）的保护。

您可以使用 TE 电路保护硅 ESD（silicon ESD, SESD）器件来保护测试设备，这些器件提供符合 IEC61000-4-2 标准高达 20kV 接触和空气放电保护功能。如下图所示，它们同时提供单向、双向，以及阵列（未在图中显示）配置。

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在这样的应用中，一个重要的规范是器件的输入电容。具有高输入电容的器件不能用于保护具有高频信号的输入和输出。TE 电路保护部提供输入电容低至 0.1pF 的 SESD 器件，可以用于高速数据线，仅引入极小的甚至不会带来信号衰减。

此外，SESD 器件可以耐受无数的 ESD 冲击，这在 ATE 应用中是非常重要的，因为在 ATE 应用中所测试的产品会不断地与测试仪器连接和断开。

使用正确的电路保护措施，有助于保持测试设备运行，而更可靠的测试设备意味着可以获得更多的在线测试产品时间，以及较少在维修实验室中的离线时间。最终，这意味着可降低测试成本和使企业有更良好的业务盈亏底线。