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确保USB 3.0兼容性认证之测试
来源:TE  时间:2015-06-16

作者:Kedar Bhatawadekar

从 用户的角度来看,通用串行总线(Universal Serial Bus, USB)的好处之一是可让用户在其电脑上将各种装置连接到单一类型的端口 上。从开发人员的角度来看,他们知道如果设计具有USB接口的器件,客户将能够在广泛的系统设备上使用其产品。而使得这一切能够实现的是USB实施者论坛(USB Implementer’s Forum, USB-IF)发布的操作规范,以及他们的测试规范和认证项目。

USB-IF 网站上刊载了名为电气兼容性测试规范、超高速通用串行接口(Electrical Compliance Test Specification, Super Speed Universal Serial Bus) 的 USB 3.0 测试规范,除了规定 USB 3.0 设备必需符合 USB 2.0 标准外,还规定了以下测试:

● 低频率周期信号 TX 测试

● 低频率周期信号 RX 测试

● 发送眼图测试

● 发送 SSC 曲线测试

● 接收抖动容差测试

此外,还有用于外设、集线器、主机和电缆及连接器的测试规范,以及用于“USB on the Go”设备和具有嵌入式主机之设备的测试规范。“USB on the Go”设备通常是便携式设备,例如平板电脑、数码相机和电子书阅读器。

业界有两种方法可以确保你的产品符合 USB 标准,第一种方法是通过取得了 USB-IF 资格认证的独立测试实验室来测试你的产品,你可以在 USB-IF 网站找到测试实验室的名单

第二种方法是参加一个认证研讨会,这些研讨会每季都会在不同地点的宾馆举办会员活动,活动通常为期五天。USB-IF 提供专门的测试团队,与客户的工程师共同进行测试。另外,也可为系统销售商和外设销售商之间安排专门的测试活动。

请留意这些标准规定的测试均是功能测试,它们并不确保您的设备具有静电放电或其它电子应力保护。为了确保它们受到保护,你必需进行其它的测试,例如 IEC 61000-4-2 规定的测试,测量技术—静电放电抗扰度测试。

原文链接: http://blog.circuitprotection.com.cn/?p=1099