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NIWeek 2015,以大数据开启物联网之门
来源:美国国家仪器有限公司  时间:2015-08-13

  美国国家仪器公司(National Instruments, 简称NI)于2015年8月4日-6日在美国得克萨斯州首府奥斯汀举办了一年一度的NIWeek全球盛会。3200多名业界代表参加了此次盛会,见证了NI通过平台化架构帮助客户将Big Analog Data进一步分析、控制,打造智能化系统,实现物联网实施落地的最新理念。

  

 

  NI始终致力于为工程师和科学家提供解决方案来应对全球最严峻的工程挑战。NIWeek自举办20多年来,已经成为图形化系统设计领域的全球盛会,也成为了测试、测量与控制相关行业最为重要的前瞻性会议。此次NIWeek定位于工业物联网,介绍了物联网发展的关键技术及挑战,发布了NI针对物联网应用的最新解决方案和软硬件产品,同时展示了令人耳目一新的具体应用案例,覆盖智能测量(Smart Measurement)、智能测试系统(Smart Test System)、智能电网(Smart Grid)、智能机器(Smart Machines)与智能发电(Smart Power Generation)五大核心领域。

  ● NI针对工业物联网(IIoT)推出新一代控制系统,基于开放、灵活的LabVIEW可重配置I/O (RIO)架构的全新嵌入式系统硬件

  该硬件包含了以下三个控制器:高性能CompactRIO控制器,适用于需要系统坚固可靠、环境严苛的工业应用领域的工程师和系统集成商;FlexRIO控制器,适用于有便携需求的高性能嵌入式应用设计工程师;以及Single-Board RIO控制器,适用于需要提高嵌入式应用灵活性的设计工程师。这些控制器集成了来自Intel和Xilinx的最新嵌入式技术,旨在帮助系统设计工程师和机器开发人员应对最严峻的控制和监测挑战。控制器基于SELinux ,完全受到LabVIEW软件、LabVIEW FPGA模块和NI Linux Real-Time的支持,为工业物联网应用提供了高级的安全功能。

  ● 全新无线测试系统(WTS)降低无线生产测试成本,基于PXI的无线测试系统进行了速度优化,可数倍提高生产车间的生产效率

  WTS结合了最新的PXI硬件,为多标准、多DUT和多端口测试提供了一个统一平台。该系统结合TestStand无线测试模块等灵活的测试序列生成软件,可帮助制造商大幅提高并行测试多个设备时的仪器利用效率。WTS可轻松集成到生产线中,提供了可立即运行的测试序列来测试采用Qualcomm和Broadcom芯片的设备、集成式DUT和远程自动化控制。借助这些特性,用户将可明显看到其RF测试设备的效率大幅提升,从而进一步降低了测试成本。

  ● 全新CompactDAQ硬件和DIAdem 2015软件,帮助工程师解决大数据挑战

  全新的4槽和8槽CompactDAQ控制器搭载Intel Atom E3845四核处理器作为控制器,可使用最新版的LabVIEW2015系统设计软件进行编程。同时新的控制器可运行Windows Embedded 7或NI Linux Real- Time操作系统,包含了32 GB非易失性存储和可移动SD存储,可帮助工程师开发更智能的数据记录和嵌入式监测应用。全新的USB 3.0 CompactDAQ机箱更可帮助用户将测量系统扩展到更高通道数的应用,而且不会降低数据传输速度。DIAdem 2015 64位软件可让用户加载和分析比以往更多的数据。 DataFinder 2015服务器版提供了多级查询功能,查询请求会发送到服务器全局,几秒钟内便可找到用户需要分析的数据。

  ● 最新LabVIEW 2015系统级设计软件更快速编写代码

  LabVIEW最新版提供了快速便捷开发方式和调试工具,将继续通过系统间的代码复用来标准化用户与几乎所有硬件的交互方式,从而帮助他们节省时间和成本,以适应技术的进步、需求的变化和日益增加的上市时间压力。LabVIEW 2015还可帮助用户以最短的时间学习软件设计的方法,进而快速开发强大、灵活、可靠的系统。

  

 

  “工业物联网将代表下一代工业革命,而且伴随着大数据的加入也将带来无穷的机遇。” NI 总裁、CEO和创始人Dr. James Truchard表示,“NI将帮助客户应对物联网发展所带来的挑战,承担链接物联网与大数据的中间角色,为客户提供切实的智能解决方案。”

  如需了解更多关于2015 NIWeek资讯,请访问http://www.ni.com/niweek/

  关于NI

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