技术资料
CompactRIO - 基于软件定制嵌入式测控系统
- 文档大小：54615K
- 文档类型：技术文档
- 上传日期：2011-07-11
-
- 资料介绍：
NI CompactRIO不仅具备工业级的可靠性，还拥有丰富的I/O模块连接各种现场信号。灵活开放的LabVIEW开发环境在简化FPGA编程复杂度的同时，还能确保在硬件平台上通过交互式的调试实现最优的控制策略。敬请访问ni.com/crio/zhs，了解CompactRIO，帮助您创建嵌入式测控系统。
