详细说明：

紧凑、快速的工业级光度计 高速亮度、照度和Flicker闪烁测量 Asteria系列光度计适合于亮度、照度和Flicker闪烁测量。基于我们已有的成熟平台，Asteria是专门为需要内置强大计算能力、易于产线集成和快速得到测试结果的产线应用开发的。 Asteria可以提供两种配置：镜头配置可以用于测量亮度(cd/m²)和flicker。余弦校正探头配置可以用于测量照度(lux)和flicker。 Asteria系列特点： 亮度或者照度测量，探测器响应匹配人眼响应曲线（CIE1931） 支持液晶行业(Contrast,JEITA,VESA)和灯具行业(percentage, Index)所有6种flicker计算方法. 所有计算仪器内部完成，包括JEITA，便于系统集成 得益于高速的采样频率和大的内存，可以同时测量高频信号和低频信号（比如1Hz） 支持外部触发功能，适合产线应用 支持大部分的编程语言Labview / Labwindows / Visual Studio (C++, C#, VB)/ 等 USB和RS232通讯接口 基本参数 探测器 硅光二极管 光谱响应 接近CIE1931色度匹配曲线 测量参数 亮度, 照度, Flicker, 响应时间 光学系统 接收角度5°(±2.5) 测量光斑尺寸 12mm@50mm工作距离；19mm@100mm工作距离 测量速度 180,000 次/秒. 仪器内存可存储250,000 个测量数据. 长、宽、高 69x31x93 mm (不含镜头部分) 固定方式 仪器各面都有12xM3 螺孔 重量 ~0.35 kg 测量参数 参数 范围 准确性 重复性 分辨率 15bit for X,Y and Z >78dB 亮度(Y) 0.002cd/m2-15000cd/m2 积分时间1ms-5s之间 ±4%测量值 Y:±0.2% for Y at 0.1cd/m2 Y:±0.1% for Y at 1cd/m2 Y:±0.05% for Y at 5cd/m2 Y:±0.03% for Y at 150cd/m2 测量速度 4-10次/秒(0.1cd/m2); 10-20次/秒(1cd/m2); 20-100次/秒(>5cd/m2); Flicker (contrast method) 1cd/m2或更高亮度 ±2% Flicker frequency:30Hz AC/DC 10% sine wave @ 10Cd/m2 ±1% Flicker (Jeita method) 1cd/m2或更高亮度 ±2dB Flicker frequency:30Hz AC/DC 10% sine wave @ 10Cd/m2 ±1dB 工作温度 10-35℃