标题:
面向偏压温度不稳定性分析的即时VTH 测量
类型:
技术文档
大小:
536003B
语言:
中文
发布时间:
2012-09-05
文档介绍:
在微缩CMOS和精密模拟CMOS技术中对偏压温度不稳定性——负偏压温度不稳定性（NBTI）和正偏压温度不稳定性（PBTI）——监测和控制的需求不断增加。
公司信息
等级：VIP厂商 吉时利仪器公司 电话：800-810-1334 邮箱：china@keithley.com 地址：北京市海淀区花园路4号通恒大厦3层301室
