Xilinx社区
首页>印象测试视频 > 是德科技示波器性能测试之用FFT测量调幅信号+半桥芯片死区时间测

是德科技示波器性能测试之用FFT测量调幅信号+半桥芯片死区时间测

   
视频名称: 是德科技示波器性能测试之用FFT测量调幅信号+半桥芯片死区时间测
浏览次数: 1086
播放时间: 00:02:44
简介: 本视频原创作者:EEPW网友幻影5S。
展示了一下是德科技示波器的FFT功能,用FFT测试了一个调幅信号的两个频率,测量结果非常精准。后面再测量了半桥芯片IRS2103的死区时间,测量参数也是很精准的。
关于本次视频征集活动有礼详情,请查看:http://ec.eepw.com.cn/center/videos/userid/41971/usertype/284
每日报道示波器相关抽奖
more一周看点
从最初的惠普到后来的安捷伦,再到现在的是
试验台上的测试是场漫长而严肃的独角戏。为
由EEPW和keysight联合举办的k
征文有礼活动圆满结束,感谢各位工程师的积
查看官网2分钟导师视频
查看官网示波器功能畅想视频
Copyright ©2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
京ICP备12027778号-2 北京市公安局备案:1101082052