晶体材料是现代电子和光电子技术的基础。因此，这些材料的电子特性，如(各向异性) 电导率和光电导率以及与这些特性有关的温度依存性，都是研究人员关注的问题。采用大量结晶技术的晶体生长尺寸可能不大，但往往表现出极高的电阻。这个应用笔记说明如何利用专门设计的测量室和分子束沉积(MBD)系统（在晶体或薄膜生长过程中对其进行现场测量）来测量高达1017Ω的电阻。
