CMOS集成电路（CMOS IC）和电池供电产品的制造商需要测量静态（或“待机”）电源电流用于验证生产测试质量。CMOS IC或其中含有CMOS IC成品的漏电电流测量过程被称为IDDQ测试。此测试要求在IC处于静态条件下测量VDD电源电流。测试的目的是检查栅氧化层短路及可能随时间导致IC失效的其它缺陷。同样地，带有双极晶体管的电池供电产品或其它IC的电源电流也可以在静态模式下测量。这些产品类型包括便携式电池供电的消费性电子产品，例如移动电话、寻呼机和笔记本电脑，以及可植入的医疗设备，例如心脏起搏器和除颤器。这些测试的目标是在给定电池充电电平和工作质量条件下确保产品满足消费者对更长工作时间的要求。测试必须尽快完成以确保吞吐量符合要求，而且测试必须全面以确