随着面市时间和测试成本的压力增大，需要继续仔细检查工具利用率和测试工程师的生产率。提高自动化水平是更充分利用资源的常见方法。从手动探测器的单管芯测试到利用半自动探测器的单晶圆测试，这一过程自然会通向自动探测器的全晶匣检测。在过去使用精密、灵活的实验室工具但不购买生产参数测试系统的条件下执行此类测试非常困难。这类测试通常包含大量定制代码和专用测试台，并需要训练有素的工程师运行设备。吉时利拥有这种解决方案。通过吉时利的自动特性分析套件（ACS）软件和4200-SCS半导体特性分析系统的结合，您将获得两者的优点——实验室级特性分析和生产自动化。