首先，考虑被测器件（DUT）。DUT常常包含大量待测元素。在顺序测试架构中无论测试多么简单的元素都会增加总测试时间。如果两个相同元素可以并行测试，甚至更好的情况是，如果物理位置相邻的两颗相同芯片（如图2所示）可以并行测试，那么测试总吞吐量将翻番。不仅测试仪吞吐量翻番，而且探针移动次数也减半进而显著提高了测试系统吞吐量。