电子器件的测试与特征化已经不是从前的样子了。无论在大型半导体制造厂还是在小型的研究设施，今天的工程师正在进行比以往任何时候更复杂和精度更高的测试。工程师们使用了技术领先的测试设备和当今最好的技术来生产明天的技术。但与此矛盾的是，发挥出现代测试设备的全部功能却并不总是那样的关键。我们经常遇到的情况是，数据的采集量和采集精度都超出了实际的需要。在高阻抗与超低电流的测量领域里，精度必然以时间为代价。虽然我们也许无法避免地要在这两者之间找到一个折中点，但与此同时存在着的其他许多常常被忽视的因素，却可以用来帮助提高系统的总性能。