标题:

用2600系列数字源表进行IDDQ测试和待机电流测试

类型:

技术文档

大小:

1210115B

语言:

中文

发布时间:

2012-09-05

文档介绍:

CMOS集成电路（CMOS IC）和电池供电产品的制造商需要测量静态（或“待机”）电源电流用于验证生产测试质量。CMOS IC或其中含有CMOS IC成品的漏电电流测量过程被称为IDDQ测试。此测试要求在IC处于静态条件下测量VDD电源电流。