标题:
用于多站点并行测试的ACS集成测试系统
类型:
技术文档
大小:
3119513B
语言:
中文
发布时间:
2012-09-05
文档介绍:
测试成本被视为未来先进半导体的首要挑战。对测试成本和测试系统购置成本影响最大的是测试系统吞吐量。
公司信息
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